Ключевые слова: TFA-MOD process, DyBCO, doping effect, composition, X-ray diffraction, microstructure, susceptibility, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
Gomory F., Usoskin A., Abrahamsen A.B., Grivel J., Solovyov M., Hansen J.B., Wulff A.C., Mishin O.V., RuttA., Lundeman J.H., Thyden K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, buffer layers, chemical solution deposition, annealing process
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.